Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

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Produktdetails

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Infotabelle

Produktspezifikationen

Autor
Eugene R. Hnatek
Format
gebundene Ausgabe
Sprachfassung
Englisch
Seiten
180
Erscheinungsdatum
1993-08-31
Verlag
Springer US

Produktkennung

Artikelnummer m0000H5TRJ
EAN 9780442006433
GTIN 09780442006433

Zusatzinfo und Downloads

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Produktspezifikationen

Autor
Eugene R. Hnatek
Format
gebundene Ausgabe
Sprachfassung
Englisch
Seiten
180
Erscheinungsdatum
1993-08-31
Verlag
Springer US

Produktkennung

Artikelnummer m0000H5TRJ
EAN 9780442006433
GTIN 09780442006433

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